離子遷移測試對電子產(chǎn)品的影響

  離子遷移測試是指在潮濕條件下，電子整機產(chǎn)品中的基板與電子器件之間或線路之間由于存在線間分布電場，會使處于兩極之聞盼某些金屬離子發(fā)生電場作用下的遷移，即陽離子向處在陰極狀器的部位移動，陰離子會向處于陽極狀態(tài)的部位移動。

  離子在電路聞的這種電遷移有較大危險，輕則引起設(shè)備故障，重則會因引起短路事故而導(dǎo)致火災(zāi)。 為了研究產(chǎn)生離子遷移故障的機理，在實驗室中要模擬離子遷移過程。通常采用的方法有兩種，一種是蒸汽試驗法，這是將被測試片放入盛有過飽和鹽溶液的容器內(nèi)，在高濕度和一定溫度下使試片發(fā)生離子遷移現(xiàn)象，然后通過與鍍片連接的超絕緣電阻器對試片的絕緣性能的變化進行測量。

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